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白光干涉儀和共聚焦的區(qū)別是什么

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    發(fā)表于 2024-12-3 13:39:28 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
    白光干涉儀和共聚焦顯微鏡都是微納米級表面光學(xué)分析儀器,具有非接觸式、高速度測量、高穩(wěn)定性的特點,并都能表征微觀形貌的輪廓尺寸。然而,它們在測量原理、應(yīng)用及特點上存在顯著的差異,以下是對兩者的詳細比較:

    一、測量原理
    1.白光干涉儀
    ①利用白光干涉技術(shù),結(jié)合精密Z向掃描模塊和3D建模算法,對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。
    ②通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數(shù)據(jù)處理與分析,獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),實現(xiàn)器件表面形貌的3D測量。

    2.共聚焦顯微鏡
    ①利用共聚焦技術(shù),通過放置在光源后的照明針孔和放置在檢測器前的探測針孔,實現(xiàn)點照明和點探測。
    ②來自光源的光通過照明針孔發(fā)射出的光聚焦在樣品焦平面的某個點上,該點所發(fā)射的熒光成像在探測針孔上,該點以外的任何發(fā)射光均被探測針孔阻擋。
    ③計算機以像點的方式將被探測點顯示在屏幕上,通過掃描系統(tǒng)在樣品焦平面上掃描,產(chǎn)生完整的共焦圖像。

    二、應(yīng)用及特點
    1.白光干涉儀
    ①應(yīng)用:多用于測量大范圍光滑的樣品,尤其擅長亞納米級超光滑表面的檢測,追求檢測數(shù)值的精準(zhǔn)。
    ②特點:測量精度高,能夠提供高精度的表面形貌測量數(shù)據(jù);測量范圍大,適用于大尺寸樣品的測量;具有自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量等功能,可實現(xiàn)大區(qū)域、高精度的測量。

    2.共聚焦顯微鏡
    ①應(yīng)用:更容易測陡峭邊緣,擅長微納級粗糙輪廓的檢測。
    ②特點:成像圖色彩斑斕,便于觀察;結(jié)構(gòu)簡單,由輕量化的設(shè)備主機和電腦構(gòu)成,便于攜帶和移動;操作便捷,采用全電動化設(shè)計,無縫銜接位移軸與掃描軸的切換;配備了真彩相機,提供還原的3D真彩圖像,對細節(jié)的展現(xiàn)清晰。

    綜上所述,白光干涉儀和共聚焦顯微鏡在測量原理、應(yīng)用及特點上各有千秋。選擇哪種儀器取決于具體的測量需求和樣品特性。

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    發(fā)表于 2024-12-5 13:45:01 | 只看該作者
    您的見解非常獨到,給了我很大的啟發(fā)。
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    發(fā)表于 2024-12-6 06:47:03 | 只看該作者
    感謝作者的分享,讓我對這個話題有了更深入的思考。
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    發(fā)表于 2025-11-13 01:27:34 | 只看該作者
    我覺得還有其他因素也需要考慮。
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