跌落測試的標(biāo)準(zhǔn)及判定準(zhǔn)則

艾美機(jī)械

跌落測試標(biāo)準(zhǔn)及判定準(zhǔn)則
1. 主要標(biāo)準(zhǔn)
?ISTA 3A：模擬運(yùn)輸環(huán)境，根據(jù)包裝重量確定跌落高度(如<20 kg對應(yīng)760 mm)。
?ASTM D5276：規(guī)定自由跌落測試方法，高度通常為0.3~1.5米，依據(jù)包裝類型調(diào)整。
?GB/T 4857.5：中國國標(biāo)，按產(chǎn)品重量、運(yùn)輸條件設(shè)定跌落高度(如10 kg產(chǎn)品跌落800 mm)。
?MIL-STD-810G(方法516.7)?：**設(shè)備測試，跌落高度由產(chǎn)品使用場景決定(如手持設(shè)備1.2米)。
2. 測試參數(shù)
?跌落高度：根據(jù)產(chǎn)品重量、運(yùn)輸方式(陸運(yùn)/空運(yùn))確定。
?跌落次數(shù)：通常每個(gè)面/角/棱跌落1次。
?跌落角度：優(yōu)先角(最脆弱位置)、棱、面順序測試。
3. 判定準(zhǔn)則
?包裝完整性：無破裂、嚴(yán)重變形，緩沖材料未失效。
?產(chǎn)品功能：開機(jī)正常，性能無退化(如屏幕顯示、按鍵響應(yīng))。
?外觀檢查：無結(jié)構(gòu)開裂、電池泄漏等安全隱患。
?內(nèi)部損傷：通過X光或拆解檢查，確認(rèn)電路板、焊接點(diǎn)無損壞。
4. 失效判定
?嚴(yán)重缺陷：功能喪失、安全風(fēng)險(xiǎn)(如電池爆炸)。
?輕微缺陷：外觀瑕疵但功能正常，需客戶協(xié)議接受。
5. 應(yīng)用領(lǐng)域
消費(fèi)電子、包裝運(yùn)輸、軍工設(shè)備等。
測試后需出具報(bào)告，明確是否符合客戶要求或標(biāo)準(zhǔn)等級(如ISTA 3A通過級)。

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