接觸模式-恒高模式

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       在接觸操作模式下，掃描中的懸臂偏轉(zhuǎn)會反射作用在上的排斥力。
　　在胡克定律下，作用在上的推斥力F與懸臂撓度值x有關：F = -kx，其中k是懸臂彈簧常數(shù)。不同懸臂的彈簧常數(shù)通常在0.01到幾個N / m之間變化。
　　在我們的設備中，垂直懸臂撓度值是通過光學配準系統(tǒng)測量的，并轉(zhuǎn)換為電信號DFL。在接觸模式下，DFL信號用作表征與表面之間相互作用力的參數(shù)。DFL值與作用力之間存在線性關系。在恒定高度操作模式下，顯微鏡的掃描儀將懸臂的固定端保持在恒定高度值上。因此，掃描時懸臂的撓度反映了所研究樣品的形貌。
　　等高高度模式具有一些優(yōu)點和缺點。
　　恒定高度模式的主要優(yōu)點是掃描速度高。它僅受懸臂的共振頻率限制。
　　等高模式也有一些缺點。樣品必須足夠光滑。當探索軟樣品（如聚合物，生物樣品，Langmuir-Blodgett薄膜等）時，由于探針掃描頭直接與表面接觸，它們可能會被劃傷而損壞。因此，在掃描具有較高浮雕的軟樣品時，表面上的壓力會發(fā)生變化，同時樣品表面的局部彎曲也會發(fā)生變化。結果，可以證明所獲得的樣品的形貌變形。由液體吸附層施加的大量毛細作用力可能會降低分離度。